一、基线校正的本质意义

紫外分光光度法的吸收信号不仅源自样品分子本身的吸收，还伴随着：

• 溶剂背景吸收；

• 比色池本身光学透过性影响；

• 光学系统内部的散射光、杂散光；

• 仪器电子零漂（暗电流漂移）。

基线校正的核心任务：
在测量样品之前，先排除上述系统性干扰，使测量时的吸光度值只反映样品真实吸收贡献。

没有良好的基线，定量数据始终存在潜在偏差。

二、基线漂移来源全景解析

结论
基线漂移是多因素复杂叠加，需从全流程主动消除背景信号。

三、基线校正与空白校正的区别与联系

二者共同作用，保证测量曲线在各波段无系统性偏离。

四、基线校正的物理机制理解

紫外分光光度计吸光度计算逻辑：

A=log⁡10(I0I)A = \log_{10}\left(\frac{I_0}{I}\right)A=log10(II0)

• I0I_0I0 为入射光强；

• $I$ 为透射光强。

真实测量前，仪器需知道没有样品时的I值基线水平。

基线校正即在无分析物状态下，记录背景I值，作为后续样品测量的参考点。

五、标准基线校正完整操作流程

5.1 溶液准备

• 空白体系匹配原则：

• 溶剂种类完全一致；

• 缓冲液盐浓度、pH值同步；

• 脱气除泡，杜绝溶解气干扰；

• 过滤去除悬浮杂质颗粒（0.22μm微孔膜过滤）。

5.2 比色池准备

5.3 仪器预热

• 氘灯预热15-30分钟；

• 系统温度平衡至实验环境（建议20–25℃）。

5.4 空白加载

• 空白溶液注入比色池；

• 液面铺平，无气泡；

• 比色池放置固定支架，确保光路一致性。

5.5 空白调零与基线扫描

5.6 合格性判断标准

六、不同样品体系的基线校正注意事项

七、基线异常现象与快速排错表

八、智能化基线校正技术趋势

九、基线校正在方法学验证中的作用地位

基线好坏决定方法学验证能否顺利通过。

十、法规体系中对基线校正的规范性要求

十一、将基线管理纳入SOP的标准化模板

操作步骤

• 样品准备 — 比色池检查 — 仪器预热 — 空白调零 — 全谱扫描 — 记录归档。

质控卡口

• 每次扫描需有合格签字确认；

• 每月基线偏移趋势分析；

• 每季度光源与比色池校验记录审查。

培训考核

• 每位分析员年内完成不少于2次基线校正操作能力验证；

• 异常漂移应急处理演练全员轮训。

十二、结语总结

基线校正绝非简单一键调零，而是紫外分光光度分析技术体系中不可缺失的根基环节。

• 基线稳，方法才稳；

• 基线准，定量才准；

• 基线全控，实验室整体质量控制能力才能达到高合规、高稳定、高价值标准。

高水平紫外实验室的秘诀：不是仪器有多先进，而是每一条基线背后都做足了扎实功夫。