一、引言

在紫外分光光度法的测量过程中，基线稳定是确保分析准确性的前提。所谓基线校正（Baseline Correction），是通过测量参比样品（通常为空白液或溶剂）在全波长范围内的吸光度，并以此作为测量基准，从而排除非样品本身的吸收、光源波动、系统误差等对结果的影响。

本篇文章将深入分析基线校正的意义、操作步骤、技术要求及常见问题处理，为广大实验人员提供一套实用的参考体系，确保紫外分光光度计的定性和定量分析数据准确可靠。

二、基线校正的基本概念

2.1 什么是基线？

• 在光度法中，基线即为溶剂或空白样品的透光率或吸光度随波长变化的曲线；

• 理想状态下应呈一条水平线，吸光度为零。

2.2 基线校正的目的

• 消除背景吸收：排除溶剂、容器、光源系统对测量结果的干扰；

• 校准仪器系统误差：如光源强度不均、探测器响应偏差；

• 稳定信号读取：确保光谱基线为0，使样品峰值更清晰准确。

三、基线偏移的常见原因

四、基线校正与空白校正的区别

五、基线校正的标准操作流程

步骤一：准备比色皿

• 选择透光良好的石英比色皿（波长 < 320 nm 必须用石英材质）；

• 清洗干净，内外壁无水痕、油迹或划痕；

• 空比色皿与测量样品使用同一光程（一般为1 cm）。

步骤二：注入参比溶液

• 使用实验中样品的溶剂作为空白溶液；

• 注液高度应覆盖光路中心区域，避免太满或太少；

• 去除气泡并用擦镜纸擦拭比色皿外壁。

步骤三：放入比色皿进行校正

• 空比色皿插入参比光路（双光束仪器）；

• 单光束仪器需设定为“基线模式”并插入空白比色皿；

• 确认仪器处于稳定运行状态，光源已充分预热。

步骤四：启动基线扫描

• 设置波长范围（如190–800 nm）；

• 点击“基线校正”或“Baseline Correction”命令；

• 仪器自动记录参比溶液在各波长处的透光率或吸光度。

步骤五：确认与保存

• 检查扫描图谱是否呈水平基线；

• 若有局部异常峰值，重新检查比色皿或溶液纯度；

• 保存基线文件或自动覆盖仪器设置，作为后续样品测量参考。

六、不同仪器品牌下的基线校正方式对比

七、特殊场景下的基线处理策略

7.1 多组溶剂系统

如缓冲液+有机溶剂（如PBS+乙醇），建议：

• 按样品最大复杂性配制空白；

• 若不同组样品使用不同溶剂，应分别校正各自基线。

7.2 高吸收溶剂

如乙腈、二氯甲烷等，在190–250 nm可能有强烈吸收，应避开干扰波长或选用宽波长比色皿以减少吸光。

7.3 室温不稳定

• 在空调房进行操作，校正前预热仪器与样品；

• 记录校正时间与温度，确保条件一致。

八、错误校正后的补救方法

九、基线稳定性检测与验证

9.1 观察基线曲线形态

• 应基本水平；

• 最大波动幅度 ≤ ±0.005 A；

• 无突然上升、下降或尖峰。

9.2 重复性验证

• 每隔6小时或每批样品进行一次基线再扫描；

• 使用相同条件下空白溶液重复测定，验证一致性。

9.3 标准样品测试

• 每月选用已知吸收峰的标准物质（如苯、钴离子）进行基线验证；

• 对比基线前后吸光度读数差异，确保不超设定误差（如±1%）。

十、案例分析

案例一：溶剂背景干扰引起假阳性

背景：样品分析中在220 nm处出现吸收峰，怀疑为成分特征峰。

分析：对照溶剂扫描后发现该波长处有微弱吸收，未进行基线校正导致误判。

解决：重新进行基线校正，确认实际样品无吸收，避免数据误读。

十一、基线校正的管理与记录建议

十二、未来趋势与自动化发展

现代紫外分光光度计已逐步引入智能校正系统：

• 智能波段基线调整：自动识别低吸收区域并拟合基线；

• AI识别基线漂移：检测长期误差趋势，提示校正；

• 全自动程序化校正流程：通过LIMS系统对接，实现远程控制与校正记录自动归档。

十三、结语

基线校正虽为紫外分光光度计操作中的基础步骤，却是保障测量准确性与数据可靠性的核心环节之一。忽视或草率完成基线校正，将直接导致后续分析的误差放大、判断偏离，甚至实验失败。

实验人员应高度重视基线稳定的建立，通过标准化操作、严格记录、周期性复核与系统维护，形成完整的基线管理体系，为后续精准测量和科学分析奠定坚实基础。