在使用感应耦合等离子体光谱(ICP-OES)技术进行元素分析时,样品的交叉污染是一个不可忽视的问题。交叉污染不仅会影响分析结果的准确性和可靠性,还可能导致测量结果的偏差,尤其是在处理多个样品或多种元素分析时。赛默飞iCAP 7400 ICP-OES作为一种高性能的分析仪器,具有许多设计和技术功能,可以有效避免或减少样品间的交叉污染,从而提高分析结果的准确性。
本文将深入探讨赛默飞iCAP 7400 ICP-OES仪器如何通过不同的策略和技术实现样品间的交叉污染防控,包括其硬件设计、操作方法和最佳实践。